LAP-W2000濕法全自動激光粒度分析儀

產品名稱：LAP-W2000濕法激光粒度分析儀

技術標準：ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008

測試范圍: 0.1um～1250um 0.1um～2000um

探測單元：86、96

激光類型:進口光纖半導體激光器

首先感謝您對LAP-W2000濕法智能全自動激光粒度分析儀的關注！

LAP-W2000是我公司傾力研發的產品，自上市以來贏得了廣大客戶的*。LAP-W2000采用*的Mie氏散射原理和會聚光傅立葉變換光路。高密度探頭及全量程無縫銜接測試方法，保證了測試結果的準確性和重復性。*的濕法循環分散系統，保證顆粒測試過程中無顆粒沉積現象，測試排水后無廢液積存現象，保證了第二次測試精度，使測試結果更真實可靠；同時采取了管道無殘留設計，保證了測試不同樣品的準確性。*的光路自動校對系統彰顯出LAP-W2000*優勢。濕法激光粒度分析儀

LAP-W2000激光粒度分析儀主要性能特點：

*的光路設計：LAP-W2000采用會聚光傅立葉變換測試技術保證在zui短的焦距獲得zui大量程，有效提高儀器的分辨能力；*的高密度探測單元，讓LAP-W2000擁有了*的小顆粒測試能力，高密度探測單元使LAP-W2000具有*的全量程無縫測試能力，高配版采用了雙光路設計。

進口光纖半導體激光器：LAP-W2000采用了高穩定、長壽命的進口大功率光纖輸出半導體激光器，優良的單色性及穩定性讓LAP-W2000擁有了*的測試重復性。濕法激光粒度分析儀

激光器功率監測及自動調整：*采用了恒功率激光器，實時對激光功率進行檢測并自動調整功能，有效避免長期使用造成的激光功率衰減的問題。同時采用了恒流恒壓高濾波激光電源有效延長了激光器壽命，正常使用達3萬小時以上。

防塵、防震設計：儀器整體進行了密封設計，大幅提高了內部元器件使用壽命。*的懸浮式結構能有效避免外界震動對儀器的干擾，使結果測試更穩定可靠。

自動對中：*采用機械中心與光學中心相結合技術，光路自動調整定位更，達到微米級別；同時光路調整速度個更快捷zui快15秒即可完成調整。自行研制的自動對中系統包括步進電機、精密導軌、精密控制器以及軟件系統組成，zui小步距0.2微米，保證激光束焦點始終從探測器中心點穿過，提高測試結果的準確性以及測試的重復性。自動對中系統是易仕特所有型號激光粒度儀的標準配置。

智能全自動操作模式：軟件實現一鍵式操作，自動進水、自動進樣、自動測試、自動清洗，整個測試過程實現一鍵式全自動操作，使用方便快捷。

*微量循環系統：整個分散循環系統進行了優化設計，分散介質大于180毫升即可循環測試，真正達到了微量循環測試；所有接頭采用了速插快擰設計，短時間內即可更換全部管道；優化的設計保證排水后無廢夜殘留，保證了下一次測試結果的準確性。

超寬量程：LAP-W2000量程達到了0. 1μm～2000μm或0.01μm～2000μm。

超聲防干燒：LAP-W2000配備了100W大功率超聲，同時具有超聲防干燒功能。

誤操作保護：LAP-W2000具有自我保護功能，對一些會損害儀器的誤操作不響應，大大降低了因人為誤操作造成的損壞。

露點測量：樣品窗結霧會影響測量的準確性，這樣的測試結果沒有實際意義，LAP-W2000加裝了有霧點測量系統，一旦起霧軟件會自動提示（選裝）。

免排氣泡設計：全新的設計使整個測試過程不會有氣泡進入測試樣品窗，避免了氣泡干擾（免排氣泡功能技術我們*擁有）。

樣品無殘留設計：儀器管道及排水結構進行了優化設計，儀器管道、循環泵內無積液殘留，避免對下一次測試數據的影響；干法測試同樣進行了無殘留設計。

樣品窗快換裝置：全新設計的樣品窗快換裝置，使樣品窗更換更方便快捷（20秒鐘即可完成樣品窗的拆裝過程）。

穩定性及重復性達到國外儀器標準

主要技術參數：